Изучены закономерности развития кристаллографической текстуры на последовательных этапах холодной прокатки и отжигов электротехнической стали 2414 (ГОСТ 21427.2—83), проанализирована неоднородность субструктурного состояния зерен разных ориентаций, выявлена неоднородность накопленной искаженности кристаллической решетки для отдельных компонент текстуры прокатки, рассмотрено влияние промежуточных отжигов на разных этапах холодной прокатки на конечную текстуру и структуру рекристаллизованных образцов. Представлены микроструктуры, характерные сечения функции распределения зерен по ориентациям, объемные доли разных компонент текстуры и рассчитанная анизотропия магнитных свойств для образцов, изготовленных в лабораторных условиях по нескольким маршрутам. Показано, что возвратный отжиг на промежуточных деформациях около 50% приводит к перераспределению степени накопленной искаженности кристаллической решетки разных компонент текстуры и при последующем рекристаллизационном отжиге позволяет получить более высокую долю текстурной компоненты λ-волокна, способствующей снижению магнитных потерь.
Индексирование
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation