Статьи автора

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ ТЛЕЮЩЕГО РАЗРЯДА ДЛЯ ОЦЕНКИ МОРФОЛОГИИ ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ ОБЛАСТИ ОБРАЗЦОВ ПРОКАТА ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ СТАЛИ

Номер выпуска 2 от 01.04.2025

Рассмотрена возможность применения методов сканирующей электронной микроскопии и атомно-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда для комплексной оценки микроструктуры и послойного распределения элементов в образцах проката электротехнической стали после технологической обработки и нанесения электроизоляционного покрытия. Показана целесообразность применения сканирующей электронной микроскопии для визуальной оценки распределения элементов по глубине и определения морфологии частиц в зоне внутреннего окисления. Установлена согласованность результатов исследования, полученных методами сканирующей электронной микроскопии и спектрометрии тлеющего разряда, позволяющей применять атомно-эмиссионную спектрометрию тлеющего разряда для экспресс-анализа количества оксида кремния в зоне внутреннего окисления образцов после обезуглероживания, а также для количественной оценки компонентов покрытия.

33 0